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- 000 01017nam0 2200265 450
- 010 __ |a 978-7-308-21953-2 |d CNY78.00
- 100 __ |a 20220218d2022 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 光电材料表征技术 |A guang dian cai liao biao zheng ji shu |b 专著 |f 季振国等著
- 210 __ |a 杭州 |c 浙江大学出版社 |d 2022
- 215 __ |a 231页 |c 图 |d 24cm
- 312 __ |a 封面英文题名:Characterization technologies for optoelectronic materials
- 330 __ |a 本书主要介绍光电材料涉及的表征技术,并以大量实例辅助说明。全书分为元素成分分析、元素价态分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度测量、光学性能测量、电学性能测量等部分。
- 510 1_ |a Characterization technologies for optoelectronic materials |z eng
- 606 0_ |a 光电材料 |A Guang Dian Cai Liao |x 研究
- 701 _0 |a 季振国 |A ji zhen guo |4 著
- 801 _0 |a CN |b SXDTDX |c 20231007
- 905 __ |a SXDTDX |d TN204/13