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- 010 __ |a 978-7-121-04542-4 |d CNY89.00 |z 7-121-04542-7
- 100 __ |a 20101130d2007 em y0chiy0110 ea
- 200 1_ |a 数字系统测试 |A Shu Zi Xi Tong Ce Shi |d = Testing of digital systems |f (美)Niraj Jha,(美)Sandeep Gupta著 |F ( Mei ) N i r a j J h a , ( Mei ) S a n d e e p G u p t a Zhu |g 王新安,蒋安平,宋春殚等译 |z eng
- 210 __ |a 北京 |A Bei Jing |c 电子工业出版社 |C Dian Zi Gong Ye Chu Ban She |d 2007
- 215 __ |a 16,704页 |d 26cm
- 305 __ |a 由Cambridge University Press授权出版
- 330 __ |a 本书介绍了数字电路的测试向量自动生成、可测性设计和内建自测试,讨论了更高级的内容,如功能测试、延迟故障测试、存储器测试和故障诊断等。
- 510 1_ |a Testing of digital systems |z eng
- 606 0_ |a 数字系统 |x 测试 |j 教材
- 701 _1 |c (美) |a 杰哈, |A Jie Ha , |b N. |g (Jha, Niraj) |4 著
- 701 _1 |c (美) |a 古普塔, |A Gu Pu Ta , |b S. |g (Gupta, Sandeep) |4 著
- 702 _0 |a 王新安 |9 wang xin an |c (信息技术) |4 译
- 702 _0 |a 蒋安平 |9 jiang an ping |4 译
- 702 _0 |a 宋春殚 |9 song chun dan |4 译
- 801 _0 |a CN |b NLC |c 20101130
- 905 __ |a SXDTDX |d TP271/11
- 985 __ |a Z023479 |h |m 订购 |r |d 89 |b 物理学院资料室 |y |c |e 0