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中文图书1.数字系统测试与可测试设计 TP271/16
馆藏复本:10
可借复本:10 (美)Miron Abramovici,Melvin A. Breuer,Arthur D. Friedman著
机械工业出版社 2006
(0) 馆藏 -
中文图书2.数字系统测试 TP271/11
馆藏复本:1
可借复本:1 (美)Niraj Jha,(美)Sandeep Gupta著
电子工业出版社 2007
(0) 馆藏