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中文图书1.数字系统测试 TP271/11
馆藏复本:1
可借复本:1 (美)Niraj Jha,(美)Sandeep Gupta著
电子工业出版社 2007
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中文图书2.超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统 TN470.7/1
馆藏复本:1
可借复本:1 (美)Michael L.Bushnell,(美)Vishwani D.Agrawal著
电子工业出版社 2005
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中文图书3.数字集成电路分析与设计:深亚微米工艺 TN431.2?V4/1
馆藏复本:1
可借复本:1 (美)David A.Hodges,(美)Horace G.Jackson,(美)Resve A.Saleh著
电子工业出版社 2005
(0) 馆藏