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题名/责任者:

抗辐射设计与辐射效应/沈自才, 丁义刚著

出版发行项:

北京:中国科学技术出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-5046-6738-0/CNY102.00

载体形态项:

343页:图;26cm

丛编项:

中国科协三峡科技出版资助计划

个人责任者:

沈自才, 1980- 著

个人责任者:

丁义刚, 1973- 著

学科主题:

辐射防护-设计-研究

学科主题:

辐射效应-研究

中图法分类号:

TL7

书目附注:

有索引

提要文摘附注:

本书从辐射环境、辐射效应、辐射损伤机制、辐照试验、辐射屏蔽、抗辐射设计方法、辐射加固保证等方面对抗辐射设计所涉及的内容进行阐述，对漆类材料、聚合物材料、光学材料、MOS工艺器件、二极管、双极晶体管等典型材料与器件的辐射损伤机理和辐射效应数据进行梳理与总结。

使用对象附注:

适用于辐射防护设计人员及相关读者。

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