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题名/责任者:

固态表面、界面与薄膜/Hans Lüth著 王聪, 孙莹, 王蕾译

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-04-047854-9 精装/CNY128.00

载体形态项:

585页, [3] 页图版:图 (部分彩图);24cm

统一题名:

Solid surfaces, interfaces and thin films

丛编项:

材料科学经典著作选译

个人责任者:

吕特 (Lüth, Hans), 1940- 著

个人次要责任者:

王聪 译

个人次要责任者:

孙莹 译

个人次要责任者:

王蕾 译

学科主题:

固体-表面-研究

学科主题:

固体-界面-研究

学科主题:

固体-薄膜-研究

中图法分类号:

O481

版本附注:

据原书第6版译出

责任者附注:

责任者Lüth规范汉译姓: 吕特

书目附注:

有书目 (第557-572页)

提要文摘附注:

《固态表面、界面与薄膜》这本书从实验和理论两方面探讨了表面与界面的物理问题。在早期的版本中, 表面和薄膜的制备, 原子结构、形貌, 振动态与电子输运性质, 以及吸附的基础知识均被论及。表面和界面的电子态, 半导体空间电荷层和异质结等内容由于在现代信息技术和纳米结构研究中的重要性也被重点论述。本书还增加了特殊的章节重点描述界面和薄膜的集体耦合行为, 如超导电性和磁学, 而磁学的讨论中又包括了巨磁阻和自旋矩传输机理等重要内容。这两部分内容在信息技术中均具有重要价值。在第六版中, 自旋-轨道耦合对于表面态的影响首次被讨论, 对近来研究较热的、对自旋电子学具有重要价值的拓扑绝缘体材料也被讨论。因此, 新版本还专门论述了满足严格定义的自旋取向的新型拓扑保护表面态, 尤其是, 在早期版本中被忽略的一些重要的、成熟的实验技术, 如X射线衍射(XRD), 各向异性反射光谱(RAS)等在此新版中也得到补充。本书除了探讨真正意义上的固态表面与界面的制备技术外, 还重点探讨了界面的结构、振动态及电学性质的基本物理模型, 也涉及到了表面吸附与薄膜层状生长的基本问题。由于现代微电子学的重要性, 该书还特别强调了半导体界面和异质结的电学性质。在实验方面, 该书另一大特点是通过一系列“附录”的形式讲述了超高真空、电子光学、表面谱学和界面电学等表征技术方面的基础知识。为读者提供了快速、全面了解现代各种表面、界面表征技术的重要信息。

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