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题名/责任者:

集成电路测试技术/武乾文主编

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-121-44351-0 精装/CNY128.00

载体形态项:

xvii, 329页:图;25cm

并列正题名:

Integrated circuit testing technology

丛编项:

集成电路系列丛书/主编毕克允.集成电路封装测试

个人责任者:

武乾文 主编

学科主题:

集成电路-电路测试

中图法分类号:

TN407

一般附注:

工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

责任者附注:

武乾文, 中国电子科技集团公司第五十八研究所副总工程师, 电子科技大学、南京信息工程大学兼职教授, 硕士研究生导师, 无锡市学术带头人, DSP、CPU集成电路测试专家。

书目附注:

有书目 (第314-329页)

提要文摘附注:

本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章, 主要内容包括: 集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书, 可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。

使用对象附注:

本书可供集成电路测试等相关领域的科研人员和工程技术人员阅读使用, 也可以作为高等院校电子科学与技术、微电子工程等相关专业的教学用书

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