MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:2
- 题名/责任者:
- 中华人民共和国国家标准半导体器件
- 出版发行项:
- 北京:中国标准出版社,2003
- 载体形态项:
- 6页;30cm
- 并列正题名:
- Semiconductor Devices.Part 12-3.Optoelectronic Devices—Blank Detail Specification for Light-Emitting Diodes-Display Application
- 其它题名:
- 半导体器件
- 团体责任者:
- 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
- 学科主题:
- 半导体器件-国家标准-中国
- 学科主题:
- 光电器件-半导体二极管-国家标准-中国
- 学科主题:
- 半导体器件
- 学科主题:
- 光电器件
- 中图法分类号:
- T-
- 一般附注:
- 2002-12-04发布 2003-05-01实施
- 一般附注:
- 代替GB/T 12561-1990
- 提要文摘附注:
- IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按相关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样按受。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
T-/M1 | 0019438X | 新平旺校区-密集库 | 可借 | 新平旺校区-密集库 | |
T-/M1 | 0019439X | 新平旺校区-密集库 | 可借 | 新平旺校区-密集库 |
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