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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：9

题名/责任者:
半导体测量和仪器/(美)W.R.鲁尼安(W.R.Runyan)编著 上海科技大学半导体材料教研室译
出版发行项:
上海:上海科学技术出版社,1980
载体形态项:
322页:图;20cm
并列正题名:
Semiconductor measurements and instrumentation
个人责任者:
鲁尼安 W.R. 编著
个人责任者:
Runyan W.R. 编著
团体次要责任者:
上海科技大学半导体材料教研室 译
学科主题:
半导体材料-测试
学科主题:
半导体器件-测试
中图法分类号:
TN307
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN307/M3 0009916X   新平旺校区-密集库     可借 新平旺校区-密集库
TN307/M3 0009917X   新平旺校区-密集库     可借 新平旺校区-密集库
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