MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 半导体器件电离辐射总剂量效应/陈伟[等]编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2022.09
- ISBN及定价:
- 978-7-03-070039-1/CNY135.00
- 载体形态项:
- 226页:图;24cm
- 丛编项:
- 辐射环境模拟与效应丛书
- 个人责任者:
- 陈伟 编著
- 学科主题:
- 半导体器件-电离辐射-辐射效应
- 中图法分类号:
- TN303
- 题名责任附注:
- 编著者还有：何宝平、姚志斌、马武英
- 责任者附注:
- 陈伟，何宝平，姚志斌，马武英,西北核技术研究院,主持国家自然科学基金重大项目，纳米器件辐射效应机理及模拟试验关键技术
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍空间辐射环境与效应、体硅CMOS器件电离辐射总剂量效应、双极器件电离辐射总剂量效应、SOI器件电离辐射总剂量效应、电离辐射总剂量效应模拟试验方法、MOS器件电离辐射总剂量效应预估、纳米器件电离辐射总剂量效应与可靠性、系统级电离辐射总剂量效应等内容。
- 使用对象附注:
- 本书适用于从事辐射物理、抗辐射加固技术研究的科技人员及相关专业高校师生
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