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题名/责任者:

几何量公差配合与技术测量/主编刘让贤

版本说明:

第2版

出版发行项:

上海:上海科学技术出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-5478-2495-5/CNY37.00

载体形态项:

292页:图;26cm

个人责任者:

刘让贤 主编

学科主题:

机械元件-尺寸公差-配合-高等职业教育-教材

学科主题:

机械元件-技术测量-高等职业教育-教材

中图法分类号:

TG801

一般附注:

高等职业技术教育机械类教改规划教材

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书主要介绍了光滑圆柱的尺寸公差与配合、几何量测量技术、几何公差与几何误差检测、表面粗糙度轮廓及其检测、光滑极限量规、滚动轴承的公差与配合、圆锥公差与检测、圆柱螺纹公差与检测、圆柱齿轮公差与检测、键和花键联结的公差与检测等内容。

使用对象附注:

应用型本科适用

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