MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：8
- 题名/责任者:
- 半导体化合物光电器件检测/许并社主编
- 出版发行项:
- 北京:化学工业出版社,2013
- ISBN及定价:
- 978-7-122-18947-9/CNY49.00
- 载体形态项:
- 258页:图;26cm
- 丛编项:
- 半导体化合物研究与应用丛书
- 个人责任者:
- 许并社 主编
- 学科主题:
- 化合物半导体-半导体光电器件-检测-高等教育-教材
- 中图法分类号:
- TN360.7
- 一般附注:
- 普通高等教育“十二五”规划教材
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书内容包括: 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、原子力显微镜、薄膜X射线衍射、光致发光和电至发光、霍尔效应等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN360.7/1 | Y644363 | - |  库本
库231560 |
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| TN360.7/1 | Y644364 | - | 基本书库
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| TN360.7/1 | Y644369 | - | 阅览室
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| TN360.7/1 | Y644371 | - | 阅览室
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| TN360.7/1 | Y703892 | - | 阅览室
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| TN360.7/1 | Y703893 | - | 阅览室
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