MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：8
- 题名/责任者:
- 数字系统测试/(美)Niraj Jha，(美)Sandeep Gupta著 王新安，蒋安平，宋春殚等译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-121-04542-4/CNY89.00
- 载体形态项:
- 16,704页;26cm
- 并列正题名:
- Testing of digital systems
- 个人责任者:
- (美) 杰哈, N. (Jha, Niraj) 著
- 个人责任者:
- (美) 古普塔, S. (Gupta, Sandeep) 著
- 个人次要责任者:
- 王新安 (信息技术) 译
- 个人次要责任者:
- 蒋安平 译
- 个人次要责任者:
- 宋春殚 译
- 学科主题:
- 数字系统-测试-教材
- 学科主题:
- 数字系统
- 中图法分类号:
- TP271
- 一般附注:
- 国外电子与通信教材系列
- 版本附注:
- 由Cambridge University Press授权出版
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了数字电路的测试向量自动生成、可测性设计和内建自测试，讨论了更高级的内容，如功能测试、延迟故障测试、存储器测试和故障诊断等。
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