MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:4
- 题名/责任者:
- 最优试验设计:案例分析/(美) Peter Goos, Bradley Jones著 杨贵军 ... [等] 译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-121-43264-4/CNY89.00
- 载体形态项:
- 216页:图;26cm
- 丛编项:
- 统计分析系列
- 个人责任者:
- 古斯 (Goos, Peter) 著
- 个人责任者:
- 琼斯 (Jones, Bradley) 著
- 个人次要责任者:
- 杨贵军 译
- 个人次要责任者:
- 杨雪 译
- 学科主题:
- 试验设计
- 中图法分类号:
- TB21
- 题名责任附注:
- 题名页题: 杨贵军, 杨雪, 陈浩, 周琦译
- 出版发行附注:
- 本书中文简体字版专有翻译出版权由John Wiley & Sons, Ltd.授予电子工业出版社
- 责任者附注:
- 责任者Goos规范汉译姓: 古斯; 责任者Jones规范汉译姓: 琼斯
- 书目附注:
- 有书目 (第211-216页)
- 提要文摘附注:
- 本著作主要阐述D-最优和I-最优试验设计的应用, 内容主要围绕筛选设计、响应曲面设计、混料设计以及裂区设计来讨论在相应试验情形下的最优设计。
- 使用对象附注:
- 本书可作为高等院校高年级本科生及研究生的教学用书, 对科研人员、工程技术人员及广大实际工作者而言, 也是一本学习试验设计的有益参考书
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TB21/63 | B0112491 | 库本 库349445 | 可借 | 库本 | |
TB21/63 | B0112489 | 基本书库 | 可借 | 基本书库 | |
TB21/63 | B0112490 | 基本书库 | 可借 | 基本书库 |
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