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题名/责任者:

专利信息计量学/文庭孝著

出版发行项:

北京:科学出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-03-052173-6/CNY98.00

载体形态项:

294页, [8] 页图版:图 (部分彩图);24cm

并列正题名:

Patentometrics

丛编项:

计量学研究丛书

个人责任者:

文庭孝 著

学科主题:

专利文献-文献计量学

中图法分类号:

G250.252

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

当今世界的竞争是以科技和经济为核心的竞争，而科学技术是第一生产力，因此，科技竞争是国际竞争的制高点。科技竞争的核心是科技创新，科技创新的核心是知识产权，知识产权的核心是专利。因此，专利是世界科技和经济竞争的核心和焦点。如何利用专利信息和专利文献开展专利信息计量研究，为科技创新和企业竞争服务，是世界各国关注的重要课题。主要表现为：科技创新和知识产权已经成为发达国家的国家战略，我国党中央和国务院高度重视科技创新和知识产权，颁布和出台了一系列有关知识产权和专利的政策、文件与法律法规，专利信息计量分析是科技创新的加速器，专利信息已成为具有重大价值的大数据。有关专利信息计量、专利分析、专利情报研究等的研究成果已不少，但是缺乏系统性。从学科构建和理论构建的角度开展专利信息计量学及其应用研究，有利于整合情报学、知识产权、经济学、管理学和技术创新等学科领域的研究，初步形成以理论、指标、方法、工具与应用为主线的、统一的专利信息计量研究框架和理论体系，使专利信息计量研究从零散走向系统，从经验走向科学，成为一个独立的学科研究领域，具有重要的科学意义、学术价值和实际意义。

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