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题名/责任者:

超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统/(美)Michael L.Bushnell,(美)Vishwani D.Agrawal著 蒋安平,冯建华,王新安译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2005

ISBN及定价:

7-121-01490-4/CNY58.00

载体形态项:

16,511页;26cm

并列正题名:

Essentials of Electronic Testing of Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits

个人责任者:

布什内尔, M.L. (Bushnell, M.L.) 著

个人责任者:

阿格拉沃尔, V.D. (Agrawal, V.D.) 著

个人次要责任者:

蒋安平 译

个人次要责任者:

冯建华 (信息技术) 译

个人次要责任者:

王新安 (信息技术) 译

学科主题:

超大规模集成电路-测试技术-教材

学科主题:

超大规模集成电路

学科主题:

测试技术

中图法分类号:

TN470.7

一般附注:

国外电子与通信教材系列

版本附注:

Kluwer Academic Publishers授权出版

提要文摘附注:

本书系统介绍了VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试和可测试性设计。内容包括测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型、测试方法等。

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